量子效率測試儀的使用方法與步驟

更新時間：2025-03-06 點擊次數(shù)：2199

　　量子效率測試儀可提供大面積的均勻光斑，比傳統(tǒng)積分球提供更強的光強，可以測量相機像素的量子效率以及整個芯片的相機參數(shù)。準直光學(xué)技術(shù)，提供半角1度的準直光，可以進行變角度CRA和CROSSTALK測試。利用分光技術(shù)，測量的波長范圍更可擴展到190 nm-2600 nm。是一高性能的傳感器綜合測試系統(tǒng)。

　　量子效率測試儀使用方法與步驟：

　　(1)：將待測CCD芯片和標準探測器，以及它們各自的驅(qū)動電路放置在暗室中，并調(diào)節(jié)測量系統(tǒng)各部分儀器的參數(shù)。打開光源的開關(guān)，使電流保證在8.4到8.6安，打開單色儀開關(guān)，打開皮安表開關(guān)和移動位移臺的開關(guān)。

　　(2)：通過上位機程序控制待測CCD芯片電子快門，調(diào)整CCD芯片的積分時間來控制CCD芯片的曝光時間和曝光量。(一般調(diào)好不用管)。

　　(3)：調(diào)節(jié)移動位移臺，將標準件調(diào)到和激光光斑重合處(目前大約41500)。

　　(4)：記錄皮安表的數(shù)值，查表，找出對應(yīng)波長的數(shù)值，用皮安表的數(shù)值除以查表得出的值，得出功率值。(正好皮安對皮瓦)。

　　(5)：蓋住CCD相機的鏡頭，在CCD上位軟件上，連接設(shè)備，連續(xù)采圖，設(shè)置參數(shù)中輸入對應(yīng)波長，功率值后。再單擊量子效率，完成暗圖像的采集。

　　(6)：調(diào)節(jié)移動位移臺，將CCD工業(yè)相機調(diào)到激光光斑重合處，(目前大約是回到原點)。

　　(7)：揭開CCD的鏡頭，讓激光光斑打到CCD上，在設(shè)置參數(shù)中輸入對應(yīng)波長，功率值后，亮圖上打上對勾。再單擊量子效率，完成亮圖像的采集。

　　(8)：記錄量子效率的值。

　　(9)；在單色儀的上位軟件里，設(shè)定對應(yīng)波長，波長從400nm-780nm。設(shè)置起始波長為400nm，每隔20nm，重復(fù)(3)到(8)步驟測一次量子效率的值。直到780nm為止。

　　(10)：繪制量子效率的曲線。